| Résumé : |
ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS, USA, 1974, V 17, 214-24, G.2294
Des facteurs de correction, semblables à ceux définis par La Chance et Traill, ont pu être déterminés par l'addition de teneurs connues variables d'oxydes (MgO, SiO2, Al2O3, Fe2O3) ou de composés (CaCO3 pour CaO, K2SO4 pour K2O, Na2CO3 pour Na2O, (NH4)H2PO4 pour P2O5, Si2SO4 pour SO3 et Li2CO3 pour CO2) à un échantillon de base de ciment. Les facteurs de correction déterminés pour la raie primaire du rhodium et du chrome présentent des différences faibles mais significatives. Pour le rhodium à 50 et 30 kV, ils ne présentent aucune différence significative. Ces facteurs de corrections non seulement améliorent les courbes de calibration mais permettent aussi de déterminer CaO, Al2O3 et SiO2 avec écart moyen inférieur à 0,2 % (en volume absolu) par rapport aux valeurs obtenues avec les échantillons normalisés ; de plus ces facteurs sont valables pour des appareils de fluorescence X différents de même géométrie.
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