| Résumé : |
ZKG INTERNATIONAL, ALL, MARS 82, V 35, N 3, 136-9. TR.F.2587
Un spectromètre séquentiel à rayons X permet, sans préparation laborieuse des échantillons, la détermination quantitative rapide d'éléments tels que le thallium, le plomb et le cadmium présents à l'état de traces dans des produits techniques. L'efficacité du dépouillement avec la méthode des rapports est démontrée pour différentes matrices et différents éléments gênants. La mesure de traces de thallium accompagnées de quelques pour-cents de plomb en est un exemple. Les écarts-types obtenus par la mesure d'un nombre élevé d'échantillons synthétiques sont de + ou - 8 ppm pour le thallium et le plomb, et de + ou - 3 ppm pour le cadmium dans un domaine de concentration allant jusqu'à environ 200 ppm et un temps de mesure global de 200 s pour les trois éléments. L'analyse par fluorescence X montre ainsi que même dans le domaine du ppm, elle permet une analyse chimique par une méthode efficace, calculable et physique.
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