Site Web EMD Recherche simple Recherche avancée mardi 20 avril 2021 

Document

Article

Titre : ANALYSE PAR SPECTROSCOPIE X DE SILICATES EN COUCHE MINCE / X-RAY SPECTRAL ANALYSIS OF SILICATES IN THIN LAYERS / ROENTGENANALYSE VON SILIKATEN IN DUENNSCHICHTEN
Réf. ATILH n°20065
Source : SILIKATY
(1984)
Auteur(s) : ERSEPKE Z.
et JAHODOVA A.
et KRAJICKOVA M.
et SVARDALOVA B.
Mots clés : FONDS ATILH / Phase / Préparation / Procédé / Détermination / Spectrométrie RX / Diffraction RX / POUDRE / Echantillon / SILICATE / COUCHE MINCE / Essai accéléré
Résumé : SILIKATY, TCHE, 1984, V 28, N 3, 249-60.
Langue : Tchèque

André Tardy  © Centre de Documentation @ Ecole des Mines de Douai - 2002-2021