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Titre : Détermination des éléments mineurs et des éléments traces dans le carbure de silicium à l'aide de la technique de la torche à plasma-ICP- avec échantillon pâteux / Determination of minor and trace elements in silicon carbide by slurry sample presentation-ICP
Réf. ATILH n°31395
Source : TIZ
(1993)
Auteur(s) : GOULTER J.
Mots clés : FONDS ATILH / Détermination / Réfractaire / Echantillon / Méthode mesure / Teneur / ETALONNAGE / ETAT LIQUIDE / PLASMA / Oxyde mineur / Elément trace / TORCHE PLASMA
Résumé : TIZ, DEU, 1993, 117, n 1-2, 40-42
Langue : Anglais

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