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Titre : La préparation de l'échantillon, la clé des études par microscopie électronique à balayage du béton rompu / Sample preparation, the key to SEM studies of failed concrete
Réf. ATILH n°34791
Source : Cement and concrete composites
(1995)
Auteur(s) : MARUSIN SL.
Mots clés : BETON / FONDS ATILH / Surface / EPOXYDE RESINE / Préparation / Déterioration / MICROSCOPIE ELECTRONIQUE BALAYAGE / ETTRINGITE / IMPREGNATION / Echantillon / LAME MINCE / POLISSAGE / EFFET RETARD
Résumé : Cement and concrete composites, GBR, 1995, 17, n 4, 311-318
Discussion sur l'importance de la préparation de l'échantillon et sur les avantages et inconvénients des différentes techniques utilisées en liaison avec les études au MEB des images d'électrons secondaires de faible énergie et des images d'électrons rétrodiffusés d'énergie élevée, et avec des analyses par rayons X du béton endommagé par des formations d'ettringite retardée.
Langue : Anglais

André Tardy  © Centre de Documentation @ Ecole des Mines de Douai - 2002-2020