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Titre : Analyse automatique de profils par la méthode Rietveld pour réaliser une analyse quantitative de phases sans étalon / Automatic profile investigation by the Rietveld method for standardless quantitative phase analysis / Automatische Profilentfaltung nach Rietveld zur standardlosen quantitativen Phasenanalyse
Réf. ATILH n°37449
Source : ZKG international
(1998)
Auteur(s) : MOELLER H.
Mots clés : CIMENT / FONDS ATILH / Diffraction RX / Clinker / Composition phase / AUTOMATISATION / Précision mesure / Amélioration procédé
Résumé : ZKG international, DEU, 1998, 51, n 1, 40-50, 10 p.
Principes, mode de fonctionnement et domaines d'application de la méthode d'interprétation "Rietveld" des diffractogrammes, précision de la méthode, extension et possibilités d'automatisation.
Langue : Allemand

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