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Titre : Dispersion d'électrons par des gaz sous microscope électronique à balayage environnemental : influence sur la qualité de l'image et la microanalyse par rayons X / Electron scattering by gas in the Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) : effects on the image quality and on the X-ray microanalysis
Réf. ATILH n°44078
Edition : ? - 2004
Auteur(s) : KHOUCHAF L.
et VERSTRAETE J.
Mots clés : FONDS ATILH / PRESSION / TEMPERATURE / QUALITE / Rayonnement X / Déterioration / MICROSCOPIE ELECTRONIQUE BALAYAGE / Echantillon / Méthode mesure / VAPEUR / DETECTION / HELIUM / Analyse image / Surface contact / Dispersion
Résumé : Journal de physique. IV., Les Ulis : EDP Sciences, FRA, 2004, Tiré-à-part, 237-234, DIV.686
Comparaison de la qualité de l'image et des résultats de microanalyse obtenus par microscopie électronique à balayage environnementale lors de l'utilisation de vapeur d'eau et d'hélium : augmentation de la pression et amplification du faisceau électronique ; concentration du faisceau électronique et stabilité des résultats ; amélioration du rapport signal/bruit et élargissement du seuil de détection en microanalyse ; augmentation de la température à la surface de l'échantillon et impact sur son intégrité.
Langue : Anglais

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